http://industrial-heating-ir.com/ko/tags/%EC%99%80%EC%9D%B4%ED%8D%BC/ Recent content in 와이퍼 on Industrial IR Heating Solutions Hugo ko Sat, 27 Jun 2026 05:08:44 +0800 http://industrial-heating-ir.com/ko/posts/wafer-burn-in-test-heating-lamp/ Sat, 27 Jun 2026 05:08:44 +0800 http://industrial-heating-ir.com/ko/posts/wafer-burn-in-test-heating-lamp/ <p><img src="http://industrial-heating-ir.com/images/e359da41a435291bc4b653b358552252.png" alt="와이어버닝 테스트용 가열 램프"></p> <p>제조 공정에서는, 버닝인이나 포토레지스트 가열 과정 중에 발생하는 온도 변동이 급격하게 나타납니다. 이로 인해 회로선의 규격이 변하고 생산 효율도 떨어집니다. 만약 부드러운 가열과 강한 가열 과정에서 온도 조절이 제대로 이루어지지 않으면, 에칭 후에 잔여물이 남게 되고, 결함도 증가합니다. 우리는 이러한 변수들을 최소화하기 위해 웨이퍼 버닝인용 가열 시스템을 개발했습니다.</p> http://industrial-heating-ir.com/ko/posts/wafer-level-csp-chip-scale-package-heater/ Thu, 18 Jun 2026 04:34:37 +0800 http://industrial-heating-ir.com/ko/posts/wafer-level-csp-chip-scale-package-heater/ <p><img src="http://industrial-heating-ir.com/images/e359da41a435291bc4b653b358552252.png" alt="와이퍼 레벨 CSP(칩 스케일 패키지) 히터"></p> <p>제조 현장에서는 온도 변동이 허용 범위 내에 있어서는 안 됩니다. 단 1도라도 온도가 변하면 포토레지스트의 성능에 영향을 미치며, CSP 스택의 경화가 고르지 않으면 부품의 변형이나 생산 효율 저하가 발생합니다. 웨이퍼 수준의 CSP를 사용하려면 온도 제어가 반복 가능해야 하며, 모든 단계에서 온도 변동은 1도 이내로 유지되어야 합니다.</p>